PP濾芯微濾膜一般通過機械截留、架橋作用、網絡(luò)型(xíng)膜的網絡內部截留作用及吸附等形式起到分(fèn)離作用,截留率和能量是衡量微(wēi)濾膜分離性能好壞的兩個重要(yào)參數。截留率和(hé)通量與膜的結(jié)構有密切關係,受(shòu)到孔結構及其分布(bù)的直接影響。PP濾芯微濾膜孔結構大(dà)致可以從膜表麵孔結構(gòu)及剖麵孔結構進(jìn)行直觀的剖析(xī)和了解,也可以用孔徑、孔徑分布、孔隙率等住處進行間接表征。
孔結構(gòu)的(de)表(biǎo)征
PP濾芯微濾膜的孔徑範圍為0.1-10um,有直孔、曲孔、網狀孔、指狀孔之分,有對(duì)稱與不對(duì)稱(chēng)之分。電子顯微鏡是直觀研究微濾膜孔結構的重要工(gōng)具(jù)之一。其他方法還有間接的測定(dìng)方法(fǎ),如(rú)泡點法(fǎ)、壓(yā)汞法、滲透法、氣體流量法(fǎ)、已知顆粒通過法、幹濕空氣濾速法、泡點法十濾速法、顯微照片分析法等。
1,電子顯微鏡
電子顯微鏡有兩(liǎng)種:SEM(掃描電子(zǐ)顯微鏡)、TEM(透射電子顯微(wēi)鏡)。
2,原子力顯微鏡,原子力顯微鏡(AFM)也常用於膜領域,原(yuán)子力顯微鏡主要用於表征膜的(de)表麵,而且比電子顯微鏡更精確。原子粒(lì)顯微鏡。
是(shì)一種用來表征膜的新方法,直徑小(xiǎo)於1*10-8m的非常尖的探針以恒(héng)定(dìng)
的力掃過被測表麵時,探針頂部的原子會和樣品發生(shēng)相互(hù)作用,通過檢測這些力就可得到樣品表麵的掃描結構。用微尺度的懸臂可以。
實現在InN(InN-1*10-9N)的(de)相互作用(yòng)力下檢測,因此可以使用這種方法來檢查膜的表麵(特別適合聚合物(wù)材料的(de)膜)。
此方法的優點是膜表麵可在空氣中掃描而無需(xū)特別處理,所得(dé)到的掃描曲線可表現(xiàn)出可能存在的孔的位置和尺寸,而且可清晰地(dì)表征出表麵。
粗糙程度(dù)。但是在一般情況下,正是由於膜表麵的粗糙程(chéng)度要比孔徑大小相近(jìn),因此很難測得孔徑分布。因此如將此種方法和SEM等其他。
方(fāng)法(fǎ)結合起來,可以(yǐ)取得很好的效果。
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